陈进与芯片造假无关

本网站于2006年5月12日转载了一篇标题为《上海交大证实汉芯造假 解除陈进院长职务》新闻报道，由于工作人员失误将上海交大振动、冲击、噪声国家重点实验室副主任、博士生导师陈进教授的照片当作汉芯项目负责人、原上海交大微电子学院院长陈进的照片对文章进行配图。之后一经发现，立即将照片进行更换。在此特将此失误予以更正说明，并同时向上海交大振动、冲击、噪声国家重点实验室副主任、博士生导师陈进教授表示歉意。

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